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交流阻抗仪半导体芯片测试应用

交流阻抗仪半导体芯片测试应用

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相关产品:MFIAMF-IAHF2TAHF2LIHF2IS

 

应用领域

l  半导体芯片测试与表征

l  模拟混合信号性能测量

l  太阳能电池和LED(发光二极管)的表征

l  在晶片级测量PCM(过程控制),例如电阻,电容,谐振和其他电参数

l  半导体键合优化。

 

目的

实行高通量半导体器件测试和表征。

 

优势

在交流阻抗仪半导体芯片测试应用中,HF2IS提供了2个信号发生器,2个测量单元和几种测量工具,可以低成本满足精度要求,从而提供了一种经济的测试和测量解决方案。

 

描述

交流阻抗仪半导体芯片测试应用

对半导体特性的新要求包括以高通量方式对被测样品进行测量。这是增加数据点数量,减少漂移影响并保持测量周期较小所需的。对于不希翼在生产测试仪上实行测试序列并且正在寻求便捷,经济高的测试和测量解决方案的工程师,HF2IS提供快速,灵活的信号生成功能,以及信号采集功能。HF2IS提供了直接在仪器内部运行用于信号生成和响应分析的App的选项,从而在?Hz50 MHz的宽频率范围内都具有吞吐量和效率。

 

HF2IS阻抗谱仪的主要特性

灵活的生成,数据采集,快速的重复和参数更新,频率步进,超低噪声操作,高稳定性时钟

l  1 ?Hz50 MHz频率范围

l  2个测量单元,2个高频发生器

l  8个同时频率

l  2个辅助输入,4个辅助输出,32个数字I / ODIO

l  实时可编程性

l  集成频率响应分析仪,FFT频谱分析仪和示波器

 

本文档的内容可能是指第三方拥有的常识产权。

瑞士Zurich Instruments 官网资料整理

 

 


 

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