这是描述信息

中文  |   English

切换中文

服务热线:

010-58237766

热门关键词: 电子测量  生物微流控  等离子表面处理设备   薄膜分析设备  单细胞操纵分析    生物微流控

搜索
搜索

产品中心

全部分类
封面
  • MSP500 薄膜分析仪

  • 易于安装?基于视窗结构的App,操作概况?先进的光学设计,以确保能发挥出佳的系统性能?基于阵列设计的探测器系统。
  • 封面
产品描述
图片
概况
规格参数
功能图解
应用系统
相关下载
相关下载

图片


  

 

概况


  MSP系列薄膜分析产品来自美国AST企业,其可以实现微小区域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量,同样对于材料NK参数也可以实现测量,为人们针对薄膜微小区域进行分析提供了便利。

 

产品详情


 

基本功能

1,针对微小区域测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸取系数
2,实现薄膜均匀性检测以及色度、反射率、透射率等参数测量
3,宽光谱范围同时满足材料分析、探测等应用

产品特点

l  强大的数据运算处理功能及材料NK数据库;
2  简便、易行的可视化测试界面,可根据用户需求设置不同的参数;
3  实现微小区域薄膜分析研究;
4  快捷、准确、稳定的参数测试;
5  支撑多功能配件集成以及定制;
6  支撑不同水平的用户控制模式;
7  支撑多功能模拟计算等等。

系统配置

型号:MSP500RTMF
双探测器系统:2048像素的CCD阵列用于UV-Vis,InGaAs阵列用于NIR
光源:高功率的DUV和可见光光源
自动的台架平台:特殊处理的铝合金操作平台,手动调节移动范围为100mm×75mm
焦距:螺杆控制的自动调焦
物镜有着长焦点距离:4×、10×、15× 、50×(包括一个DUV物镜)通讯接口:USB的通讯接口与计算机相连
App:带有全自动成像功能和2D/3D图形输出的TFProbe 2.2VM版本的App。
测量类型:反射/透射光谱、薄膜厚度/反射光谱和特性尺寸
计算机硬件:英特儿酷睿2双核处理器,19”LCD显示器
电源:110–240V AC/50-60Hz,3A
尺寸:16’x16’x18’ (操作桌面设置)
重量:120磅总重      保修:一年的整机及零备件保修

 

规格参数


  波长范围:250nm到1700 nm

  波长分辨率: 1nm

  光斑尺寸:100μm (4x), 40μm (10x), 30μm (15x), 8μm (50x)

  基片尺寸:zui多可至20mm

  测量厚度范围: 20? 到25 μm

  测量时间:zui快2毫秒

  精度*:优于0.5%(通过使用相同的光学常数,让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较)

  重复性误差*:小于2 ?

  可选配件项

  l 波长可扩展到远DUV或者长NIR范围(~2500nm)

  2 可根据客户的特殊需求来定制

  3 在动态实验研究时,可根据需要对平台进行加热或致冷

  4 可选择的平台尺寸可测量300mm大小尺寸的样品

  5 更高的波长范围的分辨率可低至0.1nm

  6 各种滤光片可供各种特殊的需求

  7 可添加应用于荧光测量的附件

  8 可添加用于拉曼应用的附件

  9 可添加用于偏光应用的附件

 

应用系统


  主要应用于透光薄膜分析类领域:

  l 玻璃镀膜领域(LowE、太阳能…)

  2 半导体制造(PR,Oxide, Nitride…)

  3 液晶显示(ITO,PR,Cell gap...)

  4 光学涂层,TiO2, SiO2, Ta2O5... ..

  5 半导体化合物

  6 在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜

  7 非晶体,纳米材料和结晶硅

图片:

  

 

概况:

  MSP系列薄膜分析产品来自美国AST企业,其可以实现微小区域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量,同样对于材料NK参数也可以实现测量,为人们针对薄膜微小区域进行分析提供了便利。

 

产品详情:

 

基本功能

1,针对微小区域测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸取系数
2,实现薄膜均匀性检测以及色度、反射率、透射率等参数测量
3,宽光谱范围同时满足材料分析、探测等应用

产品特点

l  强大的数据运算处理功能及材料NK数据库;
2  简便、易行的可视化测试界面,可根据用户需求设置不同的参数;
3  实现微小区域薄膜分析研究;
4  快捷、准确、稳定的参数测试;
5  支撑多功能配件集成以及定制;
6  支撑不同水平的用户控制模式;
7  支撑多功能模拟计算等等。

系统配置

型号:MSP500RTMF
双探测器系统:2048像素的CCD阵列用于UV-Vis,InGaAs阵列用于NIR
光源:高功率的DUV和可见光光源
自动的台架平台:特殊处理的铝合金操作平台,手动调节移动范围为100mm×75mm
焦距:螺杆控制的自动调焦
物镜有着长焦点距离:4×、10×、15× 、50×(包括一个DUV物镜)通讯接口:USB的通讯接口与计算机相连
App:带有全自动成像功能和2D/3D图形输出的TFProbe 2.2VM版本的App。
测量类型:反射/透射光谱、薄膜厚度/反射光谱和特性尺寸
计算机硬件:英特儿酷睿2双核处理器,19”LCD显示器
电源:110–240V AC/50-60Hz,3A
尺寸:16’x16’x18’ (操作桌面设置)
重量:120磅总重      保修:一年的整机及零备件保修

 

规格参数:

  波长范围:250nm到1700 nm

  波长分辨率: 1nm

  光斑尺寸:100μm (4x), 40μm (10x), 30μm (15x), 8μm (50x)

  基片尺寸:zui多可至20mm

  测量厚度范围: 20? 到25 μm

  测量时间:zui快2毫秒

  精度*:优于0.5%(通过使用相同的光学常数,让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较)

  重复性误差*:小于2 ?

  可选配件项

  l 波长可扩展到远DUV或者长NIR范围(~2500nm)

  2 可根据客户的特殊需求来定制

  3 在动态实验研究时,可根据需要对平台进行加热或致冷

  4 可选择的平台尺寸可测量300mm大小尺寸的样品

  5 更高的波长范围的分辨率可低至0.1nm

  6 各种滤光片可供各种特殊的需求

  7 可添加应用于荧光测量的附件

  8 可添加用于拉曼应用的附件

  9 可添加用于偏光应用的附件

 

应用系统

  主要应用于透光薄膜分析类领域:

  l 玻璃镀膜领域(LowE、太阳能…)

  2 半导体制造(PR,Oxide, Nitride…)

  3 液晶显示(ITO,PR,Cell gap...)

  4 光学涂层,TiO2, SiO2, Ta2O5... ..

  5 半导体化合物

  6 在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜

  7 非晶体,纳米材料和结晶硅

 

暂时没有内容信息显示
请先在网站后台添加数据记录。
公众号二维码

微流控平台

公众号二维码

电子测量平台

公众号二维码

官方淘宝店

邮箱:sales@beijingec.com

电话:010-58237766

地址:北京市朝阳区酒仙桥东路9号A2-西七层

留言应用名称:
客户留言
描述:
验证码

vns59859威尼斯城官网  版权所有    京ICP备18021011号      网站建设:vns59859威尼斯城官网  北京

XML 地图 | Sitemap 地图