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椭偏仪——SE500

椭偏仪是一种利用偏振态的变化后光束探测样品反应技术。不像反射仪,椭偏仪参数(PSI和Del)是在非正常的入射角得到。

椭偏仪——SE300

SE300椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质。

椭偏仪——SE200BA-M300

椭偏仪——SE200BA-M300椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质。
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